SuperViewW工業(yè)表面3D檢測白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器國產電鏡標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和元素分析等。

中圖儀器高分辨率sem掃描電鏡品牌具有空間自由+高效精準+定制適配+可靠保障的特點，能夠解決檢測場地受限、操作復雜拖慢進度、振動環(huán)境下數據不準測量痛點。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和元素分析等。

SuperView W1系列納米級白光干涉三維形貌儀以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數，一站式解決超精密測量精度不足、多材質適配難、批量檢測效率低等測量難題。應用覆蓋半導體、3C電子等多行業(yè)場景，數據驅動檢測，賦能精密制造升級。

中圖儀器CEM3000系列材料觀察分析一體化掃描電鏡4nm高清+40秒快檢！以“空間自由+高效精準+定制適配+可靠保障”四大核心優(yōu)勢，直擊B端檢測核心需求，讓微觀觀測更靈活、更高效、更可靠！

中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復性白光干涉儀一鍵完成單/多區(qū)域自動測量、批量分析，編程測量功能可預設流程實現一鍵操作，單個精細器件測量用時短，大幅提升檢測 throughput。