CEM3000系列100Pa倉(cāng)內(nèi)真空度掃描電鏡操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便，使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測(cè)器、附件，可以滿(mǎn)足廣泛的研究和工業(yè)需求，包括半導(dǎo)體芯片失效分析。

NS系列納米級(jí)薄膜臺(tái)階儀采用了線(xiàn)性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC，具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率，同時(shí)，其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù)，使得儀器具備超高的測(cè)量精度和測(cè)量重復(fù)性。

傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個(gè)專(zhuān)門(mén)的房間或設(shè)施，而中圖儀器國(guó)產(chǎn)掃描電鏡公司的CEM3000系列掃描電鏡的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅(jiān)固耐用得多。

CEM3000系列自動(dòng)化顆粒度統(tǒng)計(jì)掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測(cè)器、附件，可以滿(mǎn)足廣泛的研究和工業(yè)需求，包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無(wú)論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何，掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)，獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。

SuperViewW工業(yè)表面3D白光干涉檢測(cè)儀可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀(guān)幾何輪廓、曲率等。

傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個(gè)專(zhuān)門(mén)的房間或設(shè)施，而CEM3000中圖儀器臺(tái)式電鏡掃描儀器的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅(jiān)固耐用得多。