產(chǎn)品簡介

中圖儀器SuperViewW白光粗糙度輪廓儀基于白光干涉核心技術(shù)，實(shí)現(xiàn)粗糙度與輪廓度一體化高精度測量，以全場景適配、高效自動(dòng)化優(yōu)勢，成為B端企業(yè)降本增效的核心檢測裝備。

針對傳統(tǒng)測量設(shè)備常面臨的“材質(zhì)適配窄、精度不穩(wěn)定、粗糙度與輪廓度需分機(jī)測量、批量檢測效率低"等問題，中圖儀器SuperViewW白光粗糙度輪廓儀基于白光干涉核心技術(shù)，實(shí)現(xiàn)粗糙度與輪廓度一體化高精度測量，以全場景適配、高效自動(dòng)化優(yōu)勢，成為B端企業(yè)降本增效的核心檢測裝備。

一、產(chǎn)品優(yōu)勢

1.一體化測量，告別重復(fù)操作

無需更換設(shè)備或模塊，同步完成粗糙度（Ra/RMS/Sa等）與輪廓度（臺階高度、曲率、微觀幾何形狀等）參數(shù)檢測，覆蓋ISO/ASME/EUR/GBT四大標(biāo)準(zhǔn)300余種參數(shù)，滿足從研發(fā)到量產(chǎn)的全流程質(zhì)檢需求，某光學(xué)企業(yè)應(yīng)用后，檢測流程簡化60%。

2.全材質(zhì)適配

突破傳統(tǒng)設(shè)備對材質(zhì)的局限，單一掃描模式輕松應(yīng)對超光滑到粗糙、鏡面到全透明/黑色材質(zhì)，無論是半導(dǎo)體硅晶片、3C玻璃屏，還是汽車精密零部件、光學(xué)元件，均能精準(zhǔn)捕捉表面形貌，無需額外適配耗材。

3.納米級精度，數(shù)據(jù)可靠可追溯

依托白光干涉技術(shù)與復(fù)合型EPSI重建算法，粗糙度RMS重復(fù)性低至0.005nm，形貌重復(fù)性達(dá)0.1nm，輪廓度（臺階測量）準(zhǔn)確度僅0.3%。搭配氣浮隔振底座與0.1nm分辨率環(huán)境噪聲評價(jià)功能，即便在車間振動(dòng)環(huán)境中，連續(xù)10次測量數(shù)據(jù)偏差仍＜0.001nm，為工藝優(yōu)化提供可信的量化依據(jù)。

4.自動(dòng)化高效，降本增效顯著

SuperViewW白光粗糙度輪廓儀支持單/多區(qū)域一鍵測量、陣列式批量檢測，編程預(yù)設(shè)流程實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化操作；W1-Ultra型號在0.1nm分辨率下掃描速度達(dá)8μm/s，搭配數(shù)千張圖像無縫拼接功能。

二、應(yīng)用場景

1.半導(dǎo)體制造：適配硅晶片研磨減薄后的粗糙度檢測、光刻槽道輪廓測量，助力頭部企業(yè)工藝良率提升8%，檢測數(shù)據(jù)通過國際標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證，滿足供應(yīng)鏈合規(guī)要求。

2.3C電子：精準(zhǔn)測量手機(jī)玻璃屏粗糙度、金屬殼模具瑕疵、油墨屏高度差，批量檢測報(bào)表支持Word/Excel/PDF格式自動(dòng)導(dǎo)出，適配供應(yīng)鏈質(zhì)檢存檔需求。

3.光學(xué)加工：量化納米臺階高度、光學(xué)元件表面輪廓，916.5nm臺階測量重復(fù)性達(dá)0.08%，幫助企業(yè)產(chǎn)品合格率從92%提升至99.2%。

4.汽車零部件：檢測精密軸承孔隙間隙、齒輪表面磨損輪廓，在復(fù)雜車間環(huán)境中保持?jǐn)?shù)據(jù)穩(wěn)定，某車企質(zhì)檢周期縮短50%。

三、產(chǎn)品服務(wù)

1.交付支持：合同生效后30天內(nèi)免費(fèi)送貨上門，專業(yè)團(tuán)隊(duì)現(xiàn)場安裝調(diào)試，確保設(shè)備快速投產(chǎn)；

2.質(zhì)保售后：驗(yàn)收合格后享1年質(zhì)保，故障2小時(shí)內(nèi)響應(yīng)，72小時(shí)上門維修，質(zhì)保期后提供成本價(jià)備件與終身技術(shù)支持；

3.定制化服務(wù)：可根據(jù)行業(yè)需求定制測量模板、分析參數(shù)，提供免費(fèi)樣品測試與行業(yè)專屬解決方案設(shè)計(jì)。

如需獲取產(chǎn)品演示視頻、行業(yè)案例手冊或免費(fèi)樣品測試，歡迎隨時(shí)咨詢中圖儀器。

注：產(chǎn)品參數(shù)與配置以實(shí)際交付為準(zhǔn)，中圖儀器保留根據(jù)技術(shù)升級調(diào)整相關(guān)內(nèi)容的權(quán)利，恕不另行通知。