SuperViewW自動三維白光干涉光學輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點。

SuperViewW微觀形貌幾何尺寸光學輪廓測量儀以白光干涉技術為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。

SuperViewW光學納米級光學表面粗糙度測量儀利用光學干涉原理，具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

SuperViewW非接觸光學3D表面粗糙度輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

中圖儀器SuperViewW中圖精密光學粗糙度輪廓一體機以白光干涉技術為原理，能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SuperViewW中圖國產(chǎn)3d輪廓儀以白光干涉技術為原理，3D非接觸式測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。